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輻射高溫計
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Field of View Calculator
視野計算
檢視InfraTec的紅外線熱像儀所涵蓋的空間

 

用這樣的裝置,大多數測量物體的溫度可以很好地確定。

輻射高溫計或1通道高溫計測量,而不是雙色高溫計(比高溫計)僅在一個信道(1波長範圍)。用這樣的裝置,大多數測量物體的溫度可以很好地確定。輻射高溫計在許多不同的設計,所述選擇是基於以下:

  1. 測量溫度/測量材料,光譜範圍
  2. 響應時間/曝光時間
  3. 環境條件
  4. 產品特點
  5. 外殼設計

 

輻射高溫計提供以下外殼設計/系列:

小型紅外開關Polaris具可聚焦的光學技術,裝備精良的Sirius系列在同一機殼內,Metis或Metis High-speed整合固定的光學或光學聚焦對非常小的點尺寸,Metis M3集成固定的光學或光學聚焦或機動集中或Metis和Metis M3與光纖以及非常強大的Metis MW軋機和連鑄設備。

 

短波測量

金屬,陶瓷,玻璃,複合材料,半導體,晶片,熔融玻璃... 

該材料將被測量在很大程度上決定了應該被選擇的高溫計的光譜範圍。用於金屬的測量,以最短的光譜範圍為精確的測量是有利的。由於技術上的原因的溫度範圍內開始時可能是有限,至更高的起始溫度,因此一個型號必須具有稍微更高的頻譜範圍,例如選較長的波長。

 

 

 

 

模型測量:非金屬,玻璃表面,塑料,火焰...

 

通常經由材料分析測量建議使用適合於該目的特定高溫計波長。應用領域由各自的高溫計機型決定,也是我們很高興告知你,或確定您提供支援的發射率。

所呈現的相對的應用不一定是完整的,許多可用的光譜範圍可以在各種領域中使用。我們建議決定在使用設備上之前先詢問我們的建議。

 

 

 

 

 

測溫儀產品概述

設備設計,高溫計的技術,用於選擇Sensortherm高溫計,模型概述,可用光譜範圍,功能,配件,支援軟體,質量控制和服務的概述標準。