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雙色高溫計
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檢視InfraTec的紅外線熱像儀所涵蓋的空間

 

整合光學聚焦或對非常小的點尺寸或電動光學聚焦的光纖器件可在高溫環境下使用。

雙色高溫計(也稱為比率高溫計或雙通道高溫計),為同時在兩個光譜範圍相對輻射高溫計(也稱為1通道高溫計),並通過計算輻射率(商)確定的溫度測量。在該方法中,沒有必要知道該材料的發射率。它減少了由於輻射率保持在紅外輻射的中性衰減(由粉塵,煙霧...)常數。

 

Metis M3與H3高溫計提供各種機種型:

Metis M3或Metis M3High-Speed具整合光學聚焦或對非常小的點尺寸或電動光學聚焦的光纖器件可在高溫環境下使用。

金屬,陶瓷,複合材料,半導體,晶片,熔融玻璃的短波測量...

短波測量

金屬,陶瓷,複合材料,半導體,晶片,熔融玻璃...

該材料在很大程度上測量確定該高溫計的光譜範圍應該是或者已經被選擇。用於金屬的測量,以最短的光譜範圍為精確的測量是有利的。作為短波光譜範圍開始於略高的溫度,可能是一個與所述稍長的型號波譜範圍具有被選中。

應用溫度從600℃起始:

 

溫度從300℃起始:

特色

● 非常快速的數據採集:標準版本<1毫秒的響應時間,高速設計提供了根據不同的模型40或80微秒到輸出的測定結果(響應時    間)。

● 可切換為1通道模式用作正常輻射高溫計。

● 兩個通道的測得的溫度的軟體表示允許檢測測量是否是波長相關的,並且可以進行或發射率斜率的設置是必需的或測量是不      可能的。

● 監測功能使得能夠檢測所述光學器件的污染或觀察窗的程度,並確定在光束路徑干擾(灰塵......),並根據需要發出報警。

● 關斷層面限定在其中的溫度測量被切斷的信號電平,因為沒有合理形成商數的是不再可能(例如,如果污染在視高溫計的場      太強)。

● 實用提示:關斷層面應設置為10%

 

應用區域與優點

  1. 污染的觀看眼鏡或灰塵和煙霧保持測量基本未受影響。
  2. 測量對象比高溫計的光點尺寸更小的可以測量
  3. 短波高溫計波長範圍是理想的金屬測量
  4. 光纖型號可以用於在環境溫度高達250℃(光頭上)無需額外冷卻。

 

請使用比率高溫計時注意

● 目標上的兩個波長相同的發射率可以在不發射斜率設置來測量。

● 發射率的變化要影響到兩個通道(波長)相同。

● 當測量與兩個波長不同的發射率(例如未氧化的裸露金屬表面)的物體的發射率比必須為精確的溫度測量裝置。

 

測溫儀產品概述

設備設計,高溫計的技術,用於選擇Sensortherm高溫計,模型概述,可用光譜範圍,功能,配件,支援軟體,質量控制和服務的概述標準。