產品搜尋
產品介紹
PV-LIT-太陽能晶片測試解決方案
  • http://gti.tw/cache/20120601145622_cut.400.300.jpg
Field of View Calculator
視野計算
檢視InfraTec的紅外線熱像儀所涵蓋的空間

 

在成本和質量優勢取得由非接觸式的太陽能電池和光電模組的熱影像測試。

為確保高品質的太陽能電池和模組的熱影像解決方案如下:

1. 可用於所有類型(矽或薄膜太陽能電池和模組)

2. 在製造過程中在實驗室和在線測試

3. 經由接觸和非接觸式測量的各種太陽能電池和模組的測試

4. 特殊晶片系統缺陷測試

lock-in熱像技術準確地表現缺陷

PV-LIT系統整合一個幾百°C的高解析度溫度高性能的紅外線熱像儀以確保精確的檢測缺陷。因此,lock-in熱像儀系統可以用來進行太陽能電池的脈衝激發,例如通過LED和觸發的圖像收集。甚至表面下缺陷也能被截取,或經由加逆向偏壓,將被檢測物產生的過熱清楚地顯示。

尖端控制的軟體系統

(如圖。PV-LIT評估軟體)

PV-LIT軟體確實檢測缺陷它的重要參數,如激發和暴露頻率或激觸發位準,可允許被設定。因此,它可以顯示振幅圖像和相位圖像也可自由定義支援缺陷的檢測和分類。